Semiconductor Test & ATE
반도체 테스트 및 자동화 검사란?
반도체 설계 검증부터 양산 테스트까지 전 공정을 지원하는 자동 검사 장비(ATE)와 파라미터 分析 솔루션을 제공합니다.
- 메모리·로직·혼성신호 반도체 ATE
- 웨이퍼 레벨 파라미터 특성 평가
- 소스 측정 장치(SMU) 기반 IV 分析
- RF 소자 및 고속 디지털 테스트
- 신뢰성 分析 및 번인(Burn-In) 테스트
#1글로벌 ATE 시장점유율
ALL반도체 전 유형 지원
fA펨토암페어 수준 측정
KEY MANUFACTURERS
주요 공급 제조사
Advantest
어드반테스트
반도체 자동 검사 장비(ATE) 分野에서 세계 최고 수준의 시장 점유율을 차지하고 있으며, 메모리·로직·혼성신호 반도체 테스트 솔루션의 글로벌 표준을 제시합니다.
- 메모리 반도체 ATE (T5503 / T5585)
- SoC / 로직 테스터 (V93000)
- 혼성신호 테스트 시스템
- 웨이퍼 레벨 테스트 솔루션
Teradyne
테라다인
미국의 대표적인 자동 테스트 장비(ATE) 제조업체로, 반도체 및 무선 통信 테스트 分野를 선도하며, 특히 고속 디지털 테스트와 RF 소자 검증에 혁신적인 기술력을 보유하고 있습니다.
- UltraFLEX 디지털/아날로그 테스터
- ETS-800 시리즈 (RF 소자 테스트)
- Magnum EPIC 메모리 테스터
- 무선 통신 소자 검증 솔루션
Tektronix (Keithley)
텍트로닉스 / 키슬리
키슬리(Keithley) 브랜드를 통해 반도체 파라미터 分析기, 소스 측정 장치(SMU), 웨이퍼 프로빙 시스템을 공급하며, 디바이스 특성 평가와 신뢰성 分析에 최적화되어 있습니다.
- 반도체 파라미터 分析기 (4200A-SCS)
- 소스 측정 장치 SMU (2400 / 2600B)
- 웨이퍼 프로빙 시스템
- 펄스 IV 및 C-V 측정 솔루션